什麼是邊界掃描技術

2022-01-14 21:06:05 字數 1443 閱讀 4905

1樓:匿名使用者

邊掃描測試是在20世紀80年代中期做為解決pcb物理訪問問題的jtag介面發展起來的,這樣的問題是新的封裝技術導致電路板裝配日益擁擠所產生的。邊界掃描在晶片級層次上嵌入測試電路,以形成全面的電路板級測試協議。利用邊界掃描--自1990年以來的行業標準ieee 1149.

1--您甚至能夠對最複雜的裝配進行測試、除錯和在系統裝置程式設計,並且診斷出硬體問題。

邊界掃描的優先:

通過提供對掃描鏈的io的訪問,可以消除或極大地減少對電路板上物理測試點的需要,這就會顯著節約成本,因為電路板佈局更簡單、測試夾具更廉價、電路中的測試系統耗時更少、標準介面的使用增加、上市時間更快。除了可以進行電路板測試之外,邊界掃描允許在pcb貼片之後,在電路板上對幾乎所有型別的cpld和快閃記憶體進行程式設計,無論尺寸或封裝型別如何。在系統程式設計可通過降低裝置處理、簡化庫存管理和在電路板生產線上整合程式設計步驟來節約成本並提高產量。

邊界掃描原理:

ieee 1149.1 標準規定了一個四線序列介面(第五條線是可選的),該介面稱作測試訪問埠(tap),用於訪問複雜的積體電路(ic),例如微處理器、dsp、asic和cpld。除了tap之外,混合ic也包含移位暫存器和狀態機,以執行邊界掃描功能。

在tdi(測試資料輸入)引線上輸入到晶片中的資料儲存在指令暫存器中或一個資料暫存器中。序列資料從tdo(測試資料輸出)引線上離開晶片。邊界掃描邏輯由tck(測試時鐘)上的訊號計時,而且tms(測試模式選擇)訊號驅動tap控制器的狀態。

trst(測試重置)是可選項。在pcb上可序列互連多個可相容掃描功能的ic,形成一個或多個掃描鏈,每一個鏈都由其自己的tap。每一個掃描鏈提供電氣訪問,從序列tap介面到作為鏈的一部分的每一個ic上的每一個引線。

在正常的操作過程中,ic執行其預定功能,就好像邊界掃描電路不存在。但是,當為了進行測試或在系統程式設計而啟用裝置的掃描邏輯時,資料可以傳送到ic中,並且使用序列介面從ic中讀取出來。這樣資料可以用來啟用裝置核心,將訊號從裝置引線傳送到pcb上,讀出pcb的輸入引線並讀出裝置輸出。

2樓:漆菊藺聽春

邊界掃描(boundary

scan)測試發展於上個世紀90年代,隨著大規模積體電路的出現,印製電路板製造工藝向小,微,薄發展,傳統的ict

測試已經沒有辦法滿足這類產品的測試要求。由於晶片的引腳多,元器件體積小,板的密度特別大,根本沒有辦法進行下探針測試。一種新的測試技術產生了,聯合測試行為組織(joint

test

action

group)簡稱jtag

定義這種新的測試方法即邊界掃描測試。

3樓:佔乃顧高爽

eee1149.1

標準規定了一個四線序列介面(第五條線是可選的),該介面稱作測試訪問埠(tap),用於訪問複雜的積體電路(ic),例如微處理器、dsp、asic和cpld。

除了tap之外,混合ic也包含移位暫存器和狀態機,以執行邊界掃描功能。

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