1樓：張湘瑾
掃瞄電鏡能測石英襯底，相關資料如下。
能。掃瞄電子顯微鏡(sem)是1965年以後才迅速發展起來的新型電子儀器。其主要特點漏孝可歸納為：
儀器解像度高；②儀器的放大倍數範首銷圍大，一般可達15～180000倍，並在此範圍內連續可調；③影象景深大，富有立體感；④樣品製備簡單，可不破壞樣品；⑤在sem上裝上必要的專用附件——能譜儀(edx)，以實現一機多用，在觀察形貌像的同時，還可對樣品的微區進行成分分析。
一、掃瞄電子顯微鏡(sem)的基本結構及原理。
掃瞄電鏡基本上是由電子光學系統、訊號接收處理顯示系統、供電系統、真空系統等四部分組成。圖13-2-1是它的前兩部分結構原理方框圖。電子光學部分只有起聚焦作用的匯聚透鏡，它們的作用是用訊號收受處理顯示系統來完成的。
圖13-2-1 sem的基本結構示意圖。
在掃瞄電鏡中，電子槍發射出來的電子束，經3個電磁透鏡聚焦，成直徑為20 μm～25 å的電子束。置於末級透鏡上部的掃瞄線圈能使電子束在試樣表面上做光柵狀掃瞄。試樣在電子束作用下，激發出各種訊號，訊號的強度取決於試樣表面的形貌、受激區域的成分和晶體取向。
試樣附近的探測器把激發出的電子訊號接受下來，經訊號處理放大系統後，輸送到陰極射線管(映象管)的柵極以調製映象管的亮度。由於映象管中的電子束和鏡筒中的電子束是同步掃瞄的，映象管亮度是由試樣激發出的電子訊號強度來調製的，返芹稿由試樣表面任一點所收集來的訊號強度與映象管屏上相應點亮度一一對應，因此試樣狀態不同，相應的亮度也必然不同。由此，得到的像一定是試樣形貌的反映。
若在試樣斜上方安置的波譜儀和能譜儀，收集特徵x射線的波長和能量，則可做成分分析。
掃瞄電鏡下怎麼判斷是否為石英
2樓：浮萍的蘋
掃瞄電鏡是一種重要的材料表徵方法，常用於分析確定物質的成分。在材料學領域中，石英是一種非常重要的材料，而掃瞄電鏡也是判斷石英的成分和結構的重要工具之一。下面我們就來介紹掃瞄電鏡下如何判斷是否為石英。
首先，我們需要了解一下石英的成分。石英的化學式為sio2，即矽酸二氧化物。這種化合物是由矽頃滲閉和氧原子組成的，它們以四面體的形式連結在一起，形成乙個三維網狀結構。
在這個結構中，每個矽原子都被四個氧原子包圍著，而每個氧原子則被兩個矽原子共享。這種結構使得石英在晶體中具有高硬度、高熔點和高化學穩定性等特性。
在掃瞄電鏡下觀察石英時，我們需要注意以下幾點：
1.外觀特徵。石英單晶外觀為六角柱狀或六角板狀。如果是多晶石英，則外觀為細粒狀或柱狀。
2.表面形貌。石英錶面的形貌特徵為光滑、平整，喊慧有時可以觀察到細微的溝壑和顆粒。
3.顏色。石英的顏色一般為透明或白色，有時還會出現淡黃色或淡紫色等顏色。
4.晶體結構。石英的晶體結構在掃瞄電鏡下表現為光亮、均勻的晶面和稜角分明，有時還可以通過顯微光學方法觀察到其偏光特性。
5.元素分析。可以通過能譜儀等方法對石英進行元素分析，從而更加準確地確定其成雀裂分。
需要注意的是，除了石英外，當地球化學成分中sio2含量較高時，它也可能會被誤認為是石英。但是，通過綜合觀察和元素分析可以更加準確地確定其成分和結構。
總之，掃瞄電鏡是一種非常重要的材料分析方法，可以為石英等材料的研究提供有力的支援。在進行掃瞄電鏡觀察時，我們需要注意以上幾點的觀察和分析，從而確定樣品的成分和結構。
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