掃瞄電鏡如何拍粉末狀的氧化鎂呢?

2025-06-20 19:50:14 字數 2120 閱讀 1609

1樓:北京普瑞賽司

導電膠直接貼上。【點選瞭解產品詳情】

對於粉末顆粒比較大且沒有團聚現象的樣品,直接使用導電膠貼上的方法制備就能得到均勻分佈的粉末顆粒,有較好的效果。基本做法是:在樣品臺上均勻粘上一條導電膠,然後使用棉籤或牙籤在膠帶上撒少許粉末,將樣品臺傾斜,用洗耳球輕吹,吹掉貼上不牢的粉末顆粒,此時膠帶表面就留下了均勻的一層粉末。

此方法關鍵在於粉末不能撒太多,不要用玻璃板壓平粉末表面,不然會導致顆粒陷於膠帶內,導致影象失真。

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2樓:匿名使用者

把粉末用碳膠帶(雙面的)粘牢仔鏈缺,有鍍金裝置就好辦了,把粘好的樣品放到鍍金機念辯裡,抽一下真空就行了,抽到10一下。(喚此導電的碳膠帶很貴600rmb!!)

3樓:匿名使用者

粉末可以做的,關鍵是制鎮鉛樣的時候多向下磕幾下(讓樣品粘牢點),然後把上面多餘的粉用吸耳球吹賣喚乾淨就可以了,我做過,沒問御配好題的。

舉例說明掃瞄電鏡粉末樣品製備方法

4樓:網友

一般來說粉bai末樣品。

分為導電。樣品和du不導電樣zhi品兩種。

導電樣品:在樣品臺dao上貼上一小回塊導電膠,取少量粉答末撒到導電膠上,再用洗耳球吹吹,將沒有沾牢的樣品去掉,便可直接裝樣觀察了。

不導電樣品:只需要多一道噴金的工藝就可以了。

掃瞄電鏡**如何分析

5樓:好吃甜橙子

你的sem**,工作電壓是5kv,放大倍數是40倍,你的樣品應該是顆粒狀的直接放置在導電膠上進行sem測試的,通過這個**,可以看到你的樣品的形貌,大部分是規則的多面體顆粒,大小的話,這張**的尺寸標尺是100um,你的顆粒大小在400~600um之間。

6樓:產品即人品

第。

一、掃瞄電鏡**是灰度影象,分為二次電子像和背散射電子像,主要用於表面微觀形貌觀察或者表面元素分佈觀察。

一般二次電子像主要反映樣品表面微觀形貌,基本和自然光反映的形貌一致,特殊情況需要對比分析。

背散射電子像主要反映樣品表面元素分佈情況,越亮的區域,原子序數越高。

第。二、看表面形貌,電子成像,亮的區域高,暗的區域低。非常薄的薄膜,背散射電子會造成假像。導電性差時,電子積聚也會造成假像。

如何分析掃瞄電鏡的**??

7樓:網友

看表面形貌,電子成像,亮的區域高,暗的區域低。非常薄的薄膜,背散射電子會造成假像。導電性差時,電子積聚也會造成假像。

如何利用掃瞄電鏡對粉體材料進行能譜分析?

8樓:網友

為避免表面凸凹狀態、粉體錯落對x-ray訊號的遮擋和吸收,更理想的做法是:將粉體用樹脂鑲嵌,磨製乙個平面,做導電鍍膜處理,再背散射電子像模式下進行eds分析。這樣更準確,更讓人信服。

9樓:網友

直接往顆粒表面,你感興趣的地方打!

如果你想測試平均成分,你選錯裝置了!

掃瞄電鏡**如何處理

10樓:匿名使用者

簡單的標個數量個長度的話digitalmicrograph最好用,更復雜的要做一些inset或者其他處理可能要藉助其他**軟體,像coreldraw我比較喜歡用。ps你這個圖無論標尺還是晶格的文字也太小了點,發表的話看不清楚額。

掃瞄電鏡拍圖不清晰

11樓:王建新

不清晰原因太多。

1、電鏡燈絲有沒有調整好。

2、樣品導電有沒有做好。

3、放大倍數是否超出電鏡有效放大倍數。

4、拍照對焦有沒有對好。

5、像散有沒有調整好。

6、環境是否震動強烈。

7、等等等。

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需要根據樣品的種類,制樣需求來定價,詳細瞭解可以訪問歐波同 進行了解 掃瞄資訊測試資訊 掃瞄電鏡 sem 是介於透射電鏡和光學顯微鏡之間的一種微觀性貌觀察手段,可直接利用樣品表面材料的物質效能進行微觀成像。掃瞄電子顯微鏡型別多樣,不同型別的掃瞄電子顯微鏡存在效能上的差異。根據電子槍種類可分為三種 場...

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