1樓：【黎約】罪名
野外工作一般需要5-8人。人員大致分工為：
地質觀察、分層兼記錄1人
作自然剖面、掌平面圖（航片）1人
前測手兼填記錄表1人
後測手兼標本採集1人
放射性測量1人
若人員充足時，記錄和樣品採集均可由專人負責。若測制古生物地層剖面，最好古生物鑑定人員參加，變質岩地層剖面最好岩礦鑑定人員參加，以指導化石、薄片的採集工作。 1.
剖面比例尺：根據剖面所要研究的內容、目的、岩性複雜程度等，精度要求診實際情況具體對待。一般情況下比例尺為1/500～1/10000。
2.剖面上分層精度的要求：原則上在相應比例尺圖面上達1公釐的單位（厚度）均需表示。
但一些重要或具特殊意義的地質體，如標誌層、化石層、含礦層、火山岩中的沉積夾層等，其厚度在圖上雖不足1公釐，也應放大到1公釐表示，並在文字記錄中說明。分層間距按斜距丈量。
3.剖面的平移：剖面通過區如遇有大片覆蓋、天然障礙或因構造破壞造成測製意義不大的地段，則需要平移。
平移應依一定的標誌層或實測的順層追索為準。一般平移距離不大於500公尺，否則應分開另行測製剖面。 1.
地形剖面線的測量：有儀器法和半儀法兩種，儀器法有測量人員負責測製；半儀器法由地質人員測製，以羅盤測量導線方位和坡度，以皮尺或測繩丈量斜距。注意將皮尺或測繩盡量拉緊。
方向和坡角要用前、後測手測量的平均值，且要求兩人測量資料差值不能過大。
2.將測量資料和分層位置及時記入剖面記錄表，並表示在平面上，二者相互對照互相吻合。
3.根據剖面測製的目的，按需要配合以物探、化探工作。
4.剖面上樣品採集工作：應根據剖面研究的目的，系統採集岩石薄片樣、各類標本、岩石化學、人工重砂、古生物樣等。特別注意礦化地段樣品的採集，嚴防漏礦現象發生。
5.沿剖面線用定地質點的方法控制剖面起點、終點、轉折點、重要地質界線、接觸關係、構造關鍵部位和礦化有利的地段等。地質點和分層號、化石及主要樣品應用紅漆在實地標記，並準確標繪在圖上。
6.居民點、河流、地形制高點、主要地物及探礦工程等，應適當標註於平面圖和剖面圖上。
7.在剖面通過部位，遇到有意義的地質現象應像素描圖或拍照地質**，並在記錄上記明地點、時間和要說明的內容、遇到構造、特別是可說明大褶皺構造的次級褶皺構造，應在小構造具體出現位置的剖面圖上方，用特寫方式附上小構造形態特徵特徵素描圖。 剖面圖的繪製常用的有法和投影法兩種。
到導線方位比較穩定多用法，當導線方位多變、轉折較多時宜用投影發法。
1.法：法是將各次所拉的不同方向的導線按其水平長度移成統一方向的直線，也就是說將不同方向導線沿線觀察的地質現象。當成是整個在一條統一直線剖面線上的觀測。
具體方法是據斜距和坡角（±°）把各段導線園滑連線而成。在導線方向與地層走向不完全垂直（交角小於75°）時，需要將直傾角換算成視傾角在剖面上表示。次法宜用於導線方位變化不大。
比較穩定的情況下。該法比較簡單，便於在野外繪製，缺點是將轉折的導線，在剖面圖上誇大了地質體的實際寬度，以至歪曲了地質構造的實際形態。因而地層厚度只能用公式計算求得。
在作剖面中，每次導線方位應在剖面上方予以表示。剖面下的導線沒有多少意義，成圖中可不表示。
2.投影法：首先繪出導線平面圖，並把各地質要素標繪到相應的位置上，構成路線地質圖。
投影基線方位與總導線方向（剖面總方位）一致。將地層沿走向延長到投影基線上，形成各地質要素與投影基線的交點，再將各交點垂直投影到與投影基線相平行的剖面圖上，即為剖面上各地質素的界線點。地形線是將各導線點位投影到基線上，再以基線的某已知高程據各導線點的累計高程勾繪而成，此法有人稱作二次投影法。
採用地層厚度換算公式計算
d=l(sinα·cosβ·sinr±cosα·sinβ)
式中：d-岩層直厚度
l-斜坡距
α-岩層直傾角
β-地層坡度角
r-剖面線與地層走向的夾角
地形坡向與岩層傾向相反時用+相同時用-
地層厚度應分層計算。比例尺小於1∶1000的剖面，分層厚度取整數，大小1∶1000的剖面，厚度數值取小數點後一位。
地層厚度計算時應注意的問題：
（1）產狀的有效控制距離要求在野外施測過程中，根據實際情況加以確定，以便室內計算厚度用。
（2）脈岩的剔除：一般情況下，在圖上出露寬度<1公釐的脈岩不必剔除其影響厚度；超過1公釐時，則應剔去，採用岩脈兩側分別代表的厚度。若某一地段岩脈雖小，但很發育，且對此地段地層厚度影響較大，可依據岩脈在地層中含量比（線統計法：
岩脈厚度與整個統計線段長度的比值），按比率求地層厚度。
（3）同一向、背斜中，地層厚度採用地層較發育的一翼進行計算（柱狀圖中可表示岩性相變或說明厚度的變化，不可採用兩翼岩層中較大厚度的單層建立柱狀圖）。
4.地層真傾角換算為視傾角
在剖面圖中，地層走向與剖面線方向不垂直時，在剖面圖上地層產狀以視傾角表示，見傾角換算表（表ⅲ-2）。其產狀數字表示仍為真傾向、傾角。
5.實測剖面圖中表示的主要內容
（1）導線平面圖表示內容：導線、導線點、地質點、產狀（可選擇表示）、地質界線、地層代號、含礦層、斷層、主要地物等。
導線長度以平距表示。
（2）剖面上表示內容：岩性（以花紋表示）、產狀（花紋表示視傾角，下方數字表示真產狀）、地質點、導線點、樣品代號、層號及地層代號、斷層、褶皺、居民點及山峰水系名稱等，在剖面上方按需要附構造特寫素描圖。分層界線可適當劃長。
產狀指引線應指在量取產狀的實際位置處。
（3）剖面圖必須和投影基線相平行。
（4）剖面圖擺法：剖面的左端應為西、北西、南西、南。相應在右端為東、南東、北東、北。
（5）如剖面徑平移，則導線平面圖上按平移方向、距離另作起點。而剖面圖僅按兩點的高差決定起點的標高，水平方向酌情斷開1-2釐公尺，以作圖方便互不重疊為原則。
（6）如剖面測製中並進行有電、磁測量、伽瑪測量等工作，若種類少，或僅一種，可在剖面圖上部作曲線圖表示，為了減輕圖面負擔，這些曲線圖可另作圖表示，但圖中地質剖面圖應互相一致。 1.前言
（1）剖面測製的目的
（2）剖面線位置、方向、座標、長度、測製方法。
（3）工作起始、完成日期、工作單位及主要工作人員。
（4）完成主要工作量：剖面長度、工程工作量、標本××件、樣品××件。
2.地質成果
（1）簡述剖面測製區的區域構造部位及地層、構造特徵。
（2）依不同時代，由老到新分別對剖面所見地層進行敘述。
每一時代中地層可按地層組合單元總述其組合特徵，再按不同岩性層詳述其岩性、顏色、礦物成分、結構構造等岩石岩性特徵，應詳細述明岩層之間的關係，特別是不整合接觸關係。
（3）岩漿岩及脈岩的描述。
（4）構造：斷裂構造、褶皺構造。
分別描述其型別、性質、規模、形態特徵、斷層對地層連續性的影響，控礦產構造特徵。
（5）礦產：對礦產應詳述。
（6）新進展、新發現和新見解。
3.存在問題
野外數字地質剖面測製的基本方法
實測地質剖面的目的和要求
2樓：中地數媒
根據不同的地質研究目的，實測地質剖面可以分為實測地層剖面和實測構造剖面兩種，統稱實測地質剖面。
實測剖面是沿選定的野外地質觀察路線逐尺測量、綜合觀察、真實描述客觀地質體和地質現象，並繪製剖面圖的過程。實際工作中，針對不同的地質問題，可測制地層、構造、侵入巖、第四系等不同型別剖面。這裡所說的剖面是指綜合研究各種地質問題的地質剖面。
該項工作是野外工作量大、綜合性強、費時多的重點工作之一。測製目的、內容包括:
◎ 研究工作區地層的岩石組合、變質程度、地層劃分、地層層序、接觸關係及其厚度變化。
◎ 觀察沉積特徵、原生構造、化石和產出狀態以及古生物組合，分析巖相特徵和沉積環境。
◎ 觀察地層的變形特徵，確定褶皺、斷裂、新生面狀、線狀構造要素的型別、規模、產狀及其幾何學、運動學、動力學特點，分析形成序次及其疊加、改造關係。
◎ 研究侵入巖的岩石特徵、結構構造、捕虜體和析離體在岩體內的分布; 接觸變質和交代蝕變作用及含礦性; 觀察原生和次生構造，劃分巖相帶; 確定岩體產狀、與圍巖關係、剝蝕程度、侵入期次和形成時期等。
◎ 研究第四紀沉積物的性質及其特徵、厚度變化、成因、新構造運動及其表現形式。
◎ 研究對工程有不良影響的地層的分布規律。
實測剖面的選擇
3樓：中地數媒
能否保證所測剖面滿足地質填圖和深入進行地質研究，受多種因素控制，要利用各種手段（已有的地質報告、遙感解譯圖、區調前期的路線踏勘、填圖過程中的反覆找尋等）在測區內對需測剖面進行選擇。實測剖面選擇的總的原則為：
首先，乙個圖幅內的不同沉積地層、不同時代和型別的火山岩、侵入巖單元和變質岩填圖單位一般至少要有1～2條實測剖面控制，聯測圖幅可按聯測區部署，一般乙個填圖單位有2～3條剖面控制，乙個圖幅範圍內一般至少還應該有一條以上貫穿全區的控制性地質構造剖面，以系統全面地反映區域地質構造特徵。若已有符合質量要求的實測剖面，也可部分或全部引用。
其次，要求剖面中層序盡可能完整、露頭連續、構造簡單（構造剖面例外）、接觸關係清楚、岩性組合和厚度在區內具有代表性，而且易於到達等。
但是，各類地質剖面其性質差別較大，故實測剖面的選擇應各有側重。
沉積岩剖面 一般應選擇在地層出露較完整（地層頂底出露盡量齊全，俗稱「穿鞋戴帽」），基岩露頭良好、接觸關係與標誌層、相帶清晰、化石豐富、構造相對較簡單、變質程度淺的地段測製；剖面線方向和地層走向夾角盡可能不小於60°。若地層產狀平緩，其剖面宜布置在地形陡坡處。
第四系剖面 第四系堆積物雖然在實質上屬於沉積地層，但其具有自身特點，與人類的生活生產關係密切，應選擇地貌要素和成因型別清楚，岩性及結構構造、標誌層、接觸關係易於觀察，古生物儲存良好，以及對研究影響人類生活和生產的第四紀地質體堆積物、地貌、新構造運動和現代動力作用有利的剖面，以利於第四系發育地區的正式岩石地層單位劃分對比。在第四系不發育地區應進行非正式地層單位（成因型別）研究。
變質岩剖面 應選擇在變質變形複雜、變質岩型別盡量齊全的有代表性地段，測製構造-地（巖）層剖面。
侵入巖剖面 應選擇在同源岩漿序列中各種侵入體出露較齊全、侵入體之間及侵入體與圍巖接觸界線清楚的地段。
火山岩剖面 應選擇巖相發育較全，厚度大、上下界線清楚的地區。如果能確定火山機構，應盡可能通過火山機構中心。
各類實測剖面應根據需要進行放射性能譜測量。
您好，我想請問一下mapgis畫地質剖面的具體步驟
跟用公尺格紙畫一樣吧，我想你主要是想問下mapgis的操作？網上有相關教程的，搜搜 用mapgis如何畫地質剖面圖，主要是剖面線的畫法 跟用公尺格紙畫一樣吧，我想你主要是想問下mapgis的操作？網上有相關教程的，搜搜 用section可以自動切出剖面來，不需要手動畫。剖面圖又稱剖切圖，是 通過對有...
圖為我國西南某區域地質剖面示意圖，讀圖完成3 4題圖中地下
a 根據喀斯特地貌的形成過程分析，很容易判斷 在圖中先有岩石形成，然後是地殼上公升運動，形成山脈 然後是含有二氧化碳的流水對可溶性岩石進行溶蝕等作用所形成地下洞穴和暗河 所以圖中地下空間形成所經歷的地質過程是先有岩石，後抬公升，最後是外力作用溶蝕作用，故正確 b 圖中地下空間形成所經歷的地質過程是先...
讀某地地質剖面示意圖，回答下列問題1ABCD四處
1 褶皺是因為岩層受到水平擠壓力，使得岩層出現一系列彎曲變形，它包括背斜和向斜 背斜的岩層向上拱起 向斜的岩層向下彎曲 斷層上公升的形成地壘構造 斷層下降的形成地塹構造 所以圖中的abcd地質構造的名稱分別是 a地壘，b地塹，c向斜，d背斜 2 根據岩層分析c是向斜構造，此時形成了山地，原因是 向斜...