1樓:都市的貓
有的。經典的直排四探針法測試電阻率,要求使用等間距
的探針,如果針間距離不等版或權
探針有游移,就會造成實驗誤差。當被測片較小或在大片邊緣附近測量時,要求計入電場畸變的影響進行邊界修正。採用雙電測組合四探針的出現,為提高薄膜電阻和體電阻率測量準確度創造了有利條件。
hrms-800高溫四探針測試儀採用直排四探針測量原理和雙電測組合法。
高溫四探針測量系統是四探針法測電阻率嗎?
2樓:匿名使用者
高溫四探針測量系統就是採用四探針法測電阻率的。
三琦高溫四探針測量系統是為了滿足材料在高溫環境下的阻抗特性測量需求而設計的。
它由硬體裝置和測量軟體組成,包括高溫測試平台、高溫四探針夾具、電阻率測試儀和高溫電阻率測量系統軟體四個組成部分。
3樓:匿名使用者
選最大的,看偏轉,進行估算,如果幾乎不動,就換2號大的估測
四探針電阻率測試儀主要是測什麼電阻率的?
4樓:蘇州晶格電子
四探針電阻率測試儀配合不同的探頭可以測的材料也不同。配高耐磨的碳化鎢探針探頭,以測試矽等半導體、金屬、導電塑料類等硬質材料的電阻率;配不傷膜的球形或平頭鍍金銅合金探針探頭,可測金屬箔、碳紙等導電薄膜,也可測陶瓷、玻璃或pe膜等基底上導電塗層膜,如金屬鍍膜、噴塗膜、ito膜、電容卷積膜等材料的薄膜塗層電阻率;配專用箔上塗層探頭,也可測試鋰電池電池極片等箔上塗層電阻率。
5樓:匿名使用者
四探針電阻率測試儀也有很多種,例如高溫的或者常溫的,不同的四探針電阻率測試儀針對不同的材料測量的引數也是不同的。舉例,高溫四探針電阻率測試儀可以測量矽、鍺單晶電阻率和矽外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導電玻璃和其他導電薄膜的方塊電阻,主要用於評估半導體薄膜和薄片的導電性能。hrms-800高溫四探針電阻率測試儀就是,主要測量的引數就是半導體材料的電阻、電阻率、方塊電阻等。
6樓:匿名使用者
四探針測試儀測矽片電阻率時,n型和p型的矽片都可以測。
比如用於做電力元件的矽片是n型的,用於做太陽能電池的矽片是p型的(有的),這些矽片用四探針測試儀都能測。
7樓:匿名使用者
四探針電阻率測試儀,依據樣品性質不同,測試量程也不同,一般分為:
ft-361低量程,用於測量低阻性塗層,薄膜,鋁箔等半導體材料,方阻量程:10^6~2×10^5ω/□ 電阻率範圍10^7~2×10^6ω-cm
ft-341通用型中間段量程;可以測量大部分半導體材料;
方阻量程:10^5~2×10^5ω/□ 電阻率範圍10^6~2×10^6ω-cm
3.ft-371高阻性半導體基底層
方阻量程:10^4~1×10^7ω/□;電阻率範圍10^5~2×10^8ω-cm
8樓:匿名使用者
主要是測方塊電阻,可以換算電阻率
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具有記憶 運算 保持 自檢 洩漏報警等功能。具有高壓短路保護 過流保護 高壓予置等功能。高壓自洩放時間小於5秒。測試結果由兩個3 1 2lcd數字顯示，其中乙個顯示電壓值，另乙個顯示電流值，準確度高，可靠性好。可作輸出電流 1ma的可調節直流高壓源 1kv 10kv 合格的防雷元件測試儀一定是專業的...
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